電子束實(shí)驗儀 型號：EB-IV 
用途和目的 
* 研究電子在電場和磁場中運(yùn)動變化規(guī)律； 
* 了解示波管的構(gòu)造和各電的作用； 
* 掌握電子束在橫向電場作用下電偏轉(zhuǎn)運(yùn)動規(guī)律； 
* 掌握電子束在縱向不均勻電場作用下的電聚焦運(yùn)動規(guī)律； 
* 掌握電子束在橫向磁場作用下的磁偏轉(zhuǎn)運(yùn)動規(guī)律； 
* 掌握電子束在縱向磁場作用下的磁聚焦運(yùn)動規(guī)律，地測定電子荷質(zhì)比。 
技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn) 
* 示波管（8SJ31J） 
* 聚焦電壓：280～380V 
* 加速電壓：-850～-1300V 
* 偏轉(zhuǎn)電壓：-80～+80V 
* Y軸電偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.4mm/V 
* Y軸磁偏轉(zhuǎn)靈敏度：＞0.3mm/mA 
* 磁聚焦恒流源zui大輸出電流：2.（Ⅱ型自備） 
* 電子荷質(zhì)比測量誤差：≤5% 

* 整機(jī)一體化結(jié)構(gòu)； 
* 四塊電表分別顯示高壓、低壓和電流值； 
* 可進(jìn)行四次以上電子束的磁聚焦實(shí)驗，地測定電子荷質(zhì)比； 
* 勵磁電源采用大電流恒流源，更安全可靠。